Arteriosklerose, d. h. Arterienverhärtung bzw.-verkalkung, ist die häufigste Ursache für akuten Herzinfarkt und Schlaganfall. Trotz einer optimierten Akutversorgung sterben in Deutschland nach wie vor ca. 80.000 Menschen im Jahr an Herzinfarkt. Methoden zur zuverlässigen Diagnose von Arteriosklerose verursachenden Gewebeveränderungen, sogenannten Plaques, fehlen bislang.
Um dies zu ändern, entwickeln die fünf Projektpartner Lösungen, mit denen elektronische Sensorsysteme entworfen und extrem miniaturisiert werden können.
Völlig neu ist der innovative Silizium-Chip mit Frequenzen im Bereich von 30 – 300 GHz, unter Nutzung der IHP-BiCMOS-Technologie, sowie die daraus resultierenden Anforderungen an die Aufbau- und Verbindungstechnik. Umfangreiche medizinische Tests zur Plaque-Charakterisierung unterstützen die Technologie-Entwicklung.
Das BMBF fördert das Projekt im Rahmen der Hightech-Strategie der Bundesregierung und der Fördermaßnahme IKT 2020 – Forschung für Innovationen mit 2,33 Millionen Euro für drei Jahre.
An dem gestarteten Projekt Plaque-CharM sind die folgenden Partner beteiligt:
IHP – Leibniz Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder)
Universitätsklinikum Gießen/Marburg GmbH
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
Ruhr-Universität Bochum
Primed Halberstadt Medizintechnik GmbH
Das im Rahmen dieses Projektes zu entwickelnde Verfahren hat das Potential, eine völlig neue Qualität in die klinische Beurteilung des Risikos von Arteriosklerose und damit in die präventive Therapie des Herzinfarkts sowie des Schlaganfalls einzuführen. Das multidisziplinäre Forschungs- und Entwicklungsteam im Projekt Plaque-CharM bietet sehr gute Voraussetzungen zur Erreichung dieses Forschungszieles.
Projektkoordinierung/leiter: Dr. Chafik Meliani, IHP
Tel: 0335 5625 696
Email: meliani@ihp-microelectronics